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Newton C. Braga

Neste primeiro volume (revisado e ampliado) descrevemos os principais instrumentos de prova que os praticantes de eletrônica devem ter na oficina e como utilizá-los corretamente. Tratamos também de procedimentos alternativos para testes de componentes, quando os procedimentos convencionais não forem conclusivos num teste ou não se aplicarem. Veremos então em sequência detalhada os procedimentos para teste de componentes passivos como lâmpadas, cabos, resistores, fusíveis, capacitores, NTCs, LDRs, fones de ouvido e muito mais. Teremos ainda procedimentos para determinação de características e identificação de terminais de muitos componentes. Veja o índice deste primeiro volume.

Editora NCB

Como Testar Componentes Eletrônicos

No volume anterior vimos como testar alguns componentes passivos comuns, como os cabos, resistores, LDRs e outros. No entanto, existem muitos outros componentes passivos importantes, usados nas montagens eletrônicas e mesmo eletrotécnicas. Continuamos com a seqüência de testes ensinando como provar dois tipos importantes de componentes passivos. Os que se baseiam em fios enrolados ou bobinas tais como os reatores ou bobinas, transformadores e pequenos motores assim como componentes do grupo dos capacitores. Esses componentes possuem características bem diferentes, pois enquanto os que se baseiam em bobinas estão bons quando apresentam baixas resistências, os capacitores são considerados bons quando apresentam resistências muito altas ou mesmo infinitas.
Para a prova desses componentes podemos usar instrumentos como o multímetro, provador de continuidade e em alguns casos até mesmo a lâmpada de prova. Também podemos realizar provas sofisticadas com circuitos de simulação, gerador de sinais e o osciloscópio. O uso do osciloscópio na análise das características de um capacitor, na verdade, vai além da simples prova. Podemos medir sua capacitância com alguma precisão, determinar eventuais problemas de qualidade (fator Q), o que pode ser muito interessante quando pensamos no carater didático da aplicação.
Trata-se de uma ótima forma de se programar um exercício de uso do osciloscópio nesse tipo de análise. Para esse caso faremos as simulações dos circuitos no NI Multisim 11.0 de modo que o leitor possa visualizar as formas de sinais que devem ser obtidas nos testes de capacitores com o osciloscópio. Sugerimos consultar o site para informações sobre o uso do Multisim ou o próprio livro do autor sobre este assunto.

No volume anterior ensinamos como testar componentes passivos. No entanto, eles não são os únicos que os profissionais, estudantes e praticantes da eletrônica em geral vão encontrar na sua atividade. Além deles, existem muitos outros tipos de componentes dentre os quais destacamos a enorme família dos componentes semicondutores. Nela encontramos componentes como transistores, diodos, SCRs, foto-transistores, triacs e muitos outros.
Esses dispositivos semicondutores são os elementos básicos de todos os equipamentos eletrônicos modernos. Indo dos mais simples que são os diodos, chegamos aos circuitos integrados, alguns dos quais contando com milhões de componentes internos.
O teste de tais componentes ou mesmo circuitos oferece um enorme desafio ao profissional da eletrônica.
Em alguns casos procedimentos muitos simples podem revelar muito sobre o estado de tais componentes. No entanto, existem casos, em que os dispositivos testados são tão complexos que se torna impossível dizer alguma coisa sobre seu estado com um teste simples.
Para esses casos pode-se utilizar procedimentos que envolvam a montagem de circuitos de simulação ou ainda a realização de diversas medidas, que possam dar um quadro geral do que ocorre com o dispositivo. Indo além, podemos contar com a ajuda do osciloscópio para levantar as curvas características de tais componentes em que, muito além de um simples teste, teremos informações importantes sobre seu estado e o modo de usá-lo.
Neste volume focalizaremos os principais testes que podem ser realizados com esses componentes semicondutores usando desde simples provador de continuidade ou multímetro até recursos mais elaborados que envolvam o uso de instrumentos sofisticados como geradores de funções, osciloscópios e outros.

No volume anterior ensinamos como testar um primeiro grupo de componentes semicondutores. No entanto, eles não são os únicos desta grande família que os profissionais, estudantes e praticantes da eletrônica em geral vão encontrar na sua atividade.
Além deles, existem outros tipos de componentes semicondutores Neste quarto volume da série, continuaremos a ensinar como testar componentes da família dos semicondutores que não foram vistos no volume anterior.Estes dispositivos semicondutores, como os demais, são os elementos básicos de todos os equipamentos eletrônicos modernos.
O teste de tais componentes ou mesmo circuitos oferece um enorme desafio ao profissional da eletrônica.Em alguns casos procedimentos muitos simples podem revelar muito sobre o estado de tais componentes. No entanto, existem casos, em que os dispositivos testados são tão complexos que se torna impossível dizer alguma coisa sobre seu estado com um teste simples.Para esses casos pode-se utilizar procedimentos que envolvam a montagem de circuitos de simulação ou ainda a realização de diversas medidas, que possam dar um quadro geral do que ocorre com o dispositivo. Indo além, podemos contar com a ajuda do osciloscópio para levantar as curvas características de tais componentes em que, muito além de um simples teste, teremos informações importantes sobre seu estado e o modo de usá-lo.Neste volume focalizaremos os principais testes que podem ser realizados com esses componentes semicondutores usando desde simples provador de continuidade ou multímetro até recursos mais elaborados que envolvam o uso de instrumentos sofisticados como geradores de funções, osciloscópios e outros.